本標準適用于半導體工業(yè)拉制單晶用的透明石英玻璃坩堝。半導體用透明石英玻璃坩堝有QSG1高純透明石英玻璃坩堝與QSG2透明石英玻璃坩堝兩種。一、技術栗求 1.物理、化學性能指標(1)化學成分 a.QSG1高純透明石英玻璃坩堝鋁、鈣、鎂、鈦、銅、鐵、鈷、鎳、錳、硼、鉀、鈉、鋰十三個雜質元素的總含量不得大于0.001%。其中:鋁≤5×l0[-4]%;銅≤0.l×l0[-4]%;鐵≤0.5×l0[-4]%;硼≤0.1×l0[-4]%;鉀≤1×l0[-4]%;鈉≤1×10[-4]%。 6.QSG2透明石英玻璃坩堝鋁、鈣、鎂、鈦、銅、鐵、鈷、鎳、錳、硼、鉀、鈉、鋰十三個雜質元素的總含量不得大于0.01%。其中:鋁≤60×10[-4]%;銅≤0.1×l0[-4]%;鐵≤5×l0[-4]%;硼≤0.3×l0[-4]%;鉀≤4×l0[-4]%;鈉≤4×l0[-4]%。(2)熱穩(wěn)定性。試樣在1100℃至20℃溫度急變下試驗三次,不產生裂紋。(3)抗析晶性試樣在1200℃溫度下恒溫半小時,對于高純透明石英玻璃坩堝不允許出現(xiàn)直徑大于0.5毫米的析晶白點;對于透明石英玻璃坩堝不允許出現(xiàn)直徑大于3毫米的析晶白點, 0.5 ̄3毫米的析晶白點,每100平方厘米不得超過10個。 2.外觀指標(1)兩種坩堝均按外觀指標分為二級(見表1)。表1項目外觀指標一 級二級氣直徑弧度部分 0.1 ̄0.2 0.3 ̄0.4毫米直線部分 0.1 ̄0.3 0.3 ̄0.7泡允許數(shù)量(個/厘米[2])≤3≤6氣絲狀長徑(毫米) 0.5 ̄3.0 1.0 ̄7.0泡點狀直徑(毫米) 0.3 ̄2.0 0.5 ̄3.0群允許總數(shù)(個/100厘米[2])≤5≤8暗長徑弧度部分毫米直線部分疤允許數(shù)量(條/100厘米[2])≤2≤4色絲狀長徑(毫米) 0.1 ̄1.0 0.2 ̄1.5點狀直徑(毫米) 0.1 ̄0.3 0.2 ̄0.5斑允許總數(shù)(個/100厘米[2])≤2≤4揪痕直徑(毫米)不允許≤13揪揪痕深度(毫米)不允許≤0.3揪痕 D 100毫米以下坩堝不允許≤2痕數(shù)量 D 100 ̄130毫米坩堝≤3透明顆粒允許數(shù)量(個/100厘米[2])≤10≤30波紋(毫米)≤0.2≤0.3桔皮不允許按標樣云霧不允許不允許注:ⅱ①缺陷寬度小于點狀下限的按絲狀計。②非圓形缺陷的直徑按算術平均值計。(2)坩堝口部應細磨(內外倒角)戍燒圓。不得有缺口,不得有深、寬大于4毫米的表皮崩落。(3)坩堝表面光滑整潔,內表面不允許有色斑。(4)不允許有沾污和析晶。二、形狀與規(guī)格尺寸? 3.半導體用透明石英玻璃坩堝的形狀與規(guī)格尺寸應符合下圖及表2的規(guī)定。表2單位:毫米外徑高度底半徑厚度范圍同一橫截面的厚度公差 D H R 80+0.5 60+2 D-1 2.0 ̄2.8 0.3 -0.8 -1─── 2 90+0.5 70+2 D-1 2.0 ̄2.8 0.3 -0.8 -1─── 2 100+0.5 80+2 D-2 2.0 ̄2.8 0.3 -1.0 -1─── 2 106+0.5 90+2 D-1 2.0 ̄2.8 0.3 -1.0 -1─── 2 114+0.5 75±2 D-1 2.0 ̄2.8 0.3 -1.0─── 2 130+0.5 110±2 D-1 2.0 ̄2.8 0.4 -1.5─── 2注:D 130毫米以上坩堝按協(xié)議。三、試驗方法 4.化學成分按JC 186-81《石英玻璃原料及制品中微量雜質元素的分析方法》中的規(guī)定進行。 5.熱穩(wěn)定性按JC 187-73《石英玻璃熱穩(wěn)定性檢驗方法》中的規(guī)定進行。 6.抗結晶性按JC 188-73《石英玻璃抗結晶性檢驗方法》中的規(guī)定進行。 7.氣泡按JC190-81《透明石英玻璃氣泡、氣線檢驗方法》中的規(guī)定進行。
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